| 产品特性：正版软件 | 软件名称：JADE | 版本语言：英文版 |
| 软件类型：***衍射图谱软件 | 版本号：新版 | 系统平台要求：Windows等 |
| 版本类型：正版 |
JADE 是实现全谱拟合与Rietveld精修的XRD分析软件。30余年来持续引 领技术革新，被Nature、Science等期刊研究广泛引用，服务领域涵盖：
材料科学（新能源/半导体/合金开发）
地质勘探（矿物定性与定量分析）
制药工程（晶型鉴定与纯度检测）
工业质检（残余应力与晶粒尺寸分析）
三大技术突破
1. 智能全流程分析引擎
一键式自动化处理：
自动识别衍射仪原始数据格式（兼容理学/布鲁克/帕纳科等所有品牌）
智能背景扣除+峰位识别+物相检索同步完成
独 创"聚类分析"功能快速区分相似衍射谱
革命性算法精度：
全谱拟合误差比传统方法降低60%
可检测0.1%超 低含量物相（行业灵敏度）
2. 多模态分析平台
跨数据库协作：
内置ICDD PDF4+数据库，兼容CIF/COD等15种晶体学数据库
支持用户自建专属材料数据库
高 级结构解析：
Pro版提供：
傅里叶电荷密度图重构晶体结构
Warren-Averbach法计算纳米晶尺寸与微观应变
全晶系指标化与晶胞精修
3. 科研级输出系统
出版级报告生成：
自动导出符合IUCr标准的图表与精修参数表
批量处理1000+样本的Rietveld分析结果
三维可视化交互：
实时显示晶体结构模型与衍射晶面对应关系
二维/三维衍射谱重叠对比
版本对比指南
| 功能模块 | Standard基础版 | Pro专业版 |
|---|---|---|
| 物相检索(S/M) | √可选 | √标配 |
| 全谱拟合(WPF) | √可选 | √标配 |
| Rietveld精修 | × | √ |
| 晶粒尺寸分析 | × | √ |
| 晶体结构逆向解析 | × | √ |
| 集群批量处理 | × | √ |
新版功能
AI辅助物相鉴定：机器学习自动推荐潜在物相
云端数据库同步：实时更新ICDD PDF卡片
超快算法优化：Rietveld分析速度提升3倍
为什么选择JADE？
权 威认证：材料测试协会(ASTM)标准推荐工具
跨平台兼容：支持Windows/macOS/Linux
灵活授权：单机版/网络浮动许可证可选
